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| Standard Code | Standard Title | Standard Class | Order |
|---|---|---|---|
| GB/T 14849.4-2014 |
Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 4：Determination of impurity contents―Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method 工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 |
China National Standards metal―Part |
 English PDF |
| GB/T 14849.5-2014 |
Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5：Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method 工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 |
China National Standards metal―Part |
English PDF |
| GB/T 14849.6-2014 |
Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 6：Determination of carbon―Infrared absorption method 工业硅化学分析方法 第6部分：碳含量的测定 红外吸收法 |
China National Standards metal―Part |
English PDF |
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